半导体高低温冲击测试机设备

高低温冲击测试机设备用途：  

   高低温冲击测试机设备适用于国防工业,工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑胶、化工业、食品业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.  

高低温冲击测试机设备技术参数：  

1、温度范围：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃  

2、温度上限：+200℃  

3、温度下限：-80℃  

4、温度偏差：±2℃  

5、温度波动度：±0.5℃  

6、温度恢复时间：5min  

7、温度恢复条件：高温+150℃保温≥35min低温-40℃保温≥30min.  

8、试品转移方式：采用气动  

9、试品重量：≤3kg  

10、高温室升温时间：35min（+20℃～+170℃）  

11、低温室降温时间：70min（+20℃～-55℃）  

12、噪音：（dB）≤65  

高低温冲击测试机设备设备制冷系统：  

1、制冷系统及压缩机：为了保证试验箱降温速率和低温度的要求，本试验箱采用一套法国taikang全封闭二元复叠式制冷系统压缩机所组成的二元复叠式制冷系统。  

2、制冷剂：采用美国DUPONT公司产R404A（低压循环）、R23（高压循环）环保制冷剂。  

3、制冷辅助件：膨胀阀（丹麦“DANFOSS”）电磁阀（日本）,过滤器（丹麦“DANFOSS”）,压力控制器（丹麦“DANFOSS”）,油压保护（丹麦“DANFOSS”）,截止阀（意大利CAS）,油分离器（欧美ALCO）等制冷配件均采用进口件.  

4、冷却方式：风冷或水冷。  

高低温冲击测试机设备设备结构：  

1、试验箱结构形式：试验箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于后下部的高温试验箱，位于后上部的低温试验箱体位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内。  

2、箱体外材料：冷轧板防静电喷塑烤漆处理／SUS304不锈钢板  

3、箱体内材料：SUS304镜面不锈钢板／SUS304不锈钢板  

4、保温材料：硬质Polurethane发泡１级  

5、电缆穿线孔：在样品架的上部与高温试验箱体部设置有滑动式电缆穿线管。  

6、样品架承重：≥3Kｇ.  

高低温冲击测试机设备运用范围：  

1、主要测试材料对*温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在短的时间内完成测试。  

2、热震中产生的化这变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其它物理性值的改变而引起的，采用TS系统，各类产品才能获得*之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，TST系统的全数位自动控制，将使您操作简易，得心应手。  

3、冷热冲击箱用来测试复合材料及材料结构，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，即以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。  

高低温冲击测试机设备设备测控系统：  

1、控制装置：控制器采用进口可编程PLC及进口LCD彩色液晶触摸屏双回路温度控制系统、其控制  

显示器采用进口彩色液晶触摸大屏幕（5.7、7.5英寸或10.4英寸）控制显示屏该控制器采用中文操作显  

示界面显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间等。控制程序的编制采用人  

机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能。  

2、运行方式：程式运行或定值运行均可  

3、设备具备独立的工作时间累计时器。  

高低温冲击测试机设备设备满足标准：  

1.GB10589-89低温试验箱技术条件  

2.GB11158-89高温试验箱技术条件  

3.GB10592-89高低温试验箱技术条件  

4.GB2423.1低温试验、试验A  

5.GB2423.2高温试验、试验B  

6.GB2423.22温度变化试验、试验N  

7.IEC68-2-14试验N  

8.国军标GJB150.3-86  

9.国军标GJB150.4-86  

10.GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法  

11.GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法  

     以上是氙灯耐气候试验箱的相关信息，如需了解更多氙灯耐气候试验箱维护、保养等信息，请艾思荔。

：   李

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