更新日期：2024-09-20
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简要描述：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件、电子零组件、金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
换气式老化试验箱/蒸气老化试验箱
用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件、电子零组件、金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
主要技术参数：
测试槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm3/4SET
加热时间：RT～98℃About50min
温度稳定度：±0.3℃
内箱材质：304﹟不锈钢
外箱材质：烤漆涂装或304﹟不锈钢
特点：
1.微电脑温度控制器P.I.D.+P.W.M.+S.S.R.控制LED数字显示.
2.白金温度感知器（PT-100）与精确的温度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制.
4.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置..
5.符合标准：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…
