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半导体高低温冲击试验机 用途

 也可叫高低温冲击试验箱、温度冲击试验箱,分为三箱式、二箱式。三箱式分别为高温箱、低温箱和测试箱,产品在测试时是静止放置在测试箱,其工作原理是：高温箱和低温箱在准备状态可以设置较试验温度更低的温度条件,低温箱试验时,将低温箱门打开与测试箱组成试验工作空间,进行低温试验,高温试验时,低温箱门关闭,高温箱们门打开与测试箱组成新的试验工作空间,转换的机械动作在小于1s即可完成所有转换动作,温度也可比较快稳定,在整个试验过程中受试样品始终是在静止的状态,也无须人工干预。两箱式可分为高温室和低温室,其工作原理是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。

冷热冲击试验箱参数：

▲温度范围（测试区）    （150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃）；（高温区：+60℃～+150℃；低温区-10℃～-65℃）

▲保温材质 耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

▲系统 P．I．D + S．S．R + 微电脑平衡调温控制系统

▲冷却系统 半密闭式双段压缩机（水冷式）／全密闭式双段压缩机（风冷式）

▲安全保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关，冷媒高压保护开关、故障警告系统，

▲电子警报器

▲配 件观视窗（特殊选购型）、上下可调隔层两片、通电测试孔、脚轮、水平支架

▲电 源 AC380V 50Hz／60Hz 3 ∮

▲重量（大约 700Kg   900Kg   l200Kg 1400Kg 1900Kg

▲型 号:TS-42（A～C）   TS-80（A～C）   TS-150（A～C） TS-252（A～C） TS-450（A～C）

▲升温时间（蓄热区） RT～200℃约需35min

▲降温时间（蓄冷区） RT～-70℃约需85min

▲温度回复时间／转换时间    ≤5min内 / ≤l0秒内

▲温度控制精度／分布精度    ±0.5℃／±2.0℃

▲内部尺寸W×H×D（cm）:40×35×30    50×40×40 60×50×50 70×60×60 80×75×75

▲外部尺寸W×H×D（cm）   140×180×145   148×190×155   160×200×175   175×210×187   190×220×200

 

半导体高低温冲击试验机特点：

▲的造型升级，操作简单之面板接口。

▲采用日制*彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。

▲立式三箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢胆，多形式记录，设有多重安全3、保护措施及装置。

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