1、测试的目的是不同的
温变试验箱：利用电子产品研发、设计、生产和制造过程中潜在存在的外部环境应力，如果因缺陷部件、制造工艺等原因导致的早期故障提前发生，则进行纠正和更换。
温度冲击箱：主要用于在一定数量的温度突变后，测试试件的热膨胀和冷缩引起的化学变化或物理损伤。
2、测试阶段的差异
温变试验箱：主要在量产阶段。
温度冲击箱：主要处于研发设计阶段的试制阶段。
3、测试对象之间的差异
温变试验箱：主要适用于电子产品的元件级元件。
温度冲击箱：主要用于测试材料结构或复合材料，以及目前使用最多的电子产品部件。
4、温度变化率差
温变试验箱：为了提高筛选效果，建议普通快速温度变化箱选择10~25℃/min的温度变化率，温度变化率可控。
温度冲击箱：没有温度变化率指标，但温度恢复时间的参考点一般在风口处的国内外标准中，越早越好，5分钟内有标准越好。
5、样本失效差异
温变试验箱：因材料疲劳而失效。
温度冲击箱：由材料蠕变和疲劳损伤引起的失效也称为脆性失效。
以上就是关于快速温度冲击箱和温变试验箱之间的区别的全部内容介绍了，相信您看了本文，对它们之间的区别也有了进一步的了解，如果还想了解更多详细信息，欢迎到公司进行咨询！
